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利用电离层参量推断电子浓度剖面的一种简单方法

陈艳红 万卫星 刘立波 毛田

陈艳红, 万卫星, 刘立波, 毛田. 利用电离层参量推断电子浓度剖面的一种简单方法[J]. 空间科学学报, 2004, 24(3): 194-202. doi: 10.11728/cjss2004.03.194
引用本文: 陈艳红, 万卫星, 刘立波, 毛田. 利用电离层参量推断电子浓度剖面的一种简单方法[J]. 空间科学学报, 2004, 24(3): 194-202. doi: 10.11728/cjss2004.03.194
A SIMPLE METHOD OF MODELING ELECTRON DENSITY PROFILE USING IONOSPHERIC PARAMETERS[J]. Journal of Space Science, 2004, 24(3): 194-202. doi: 10.11728/cjss2004.03.194
Citation: A SIMPLE METHOD OF MODELING ELECTRON DENSITY PROFILE USING IONOSPHERIC PARAMETERS[J]. Journal of Space Science, 2004, 24(3): 194-202. doi: 10.11728/cjss2004.03.194

利用电离层参量推断电子浓度剖面的一种简单方法

doi: 10.11728/cjss2004.03.194

A SIMPLE METHOD OF MODELING ELECTRON DENSITY PROFILE USING IONOSPHERIC PARAMETERS

  • 摘要: 由武汉电离层观象台实测的电离层F2层临界频率f0F2、3000km传播因子M(3000)F2的月中值资料,统计分析分别得出它们的经验模式,模式结果能够较好地再现这些参数的观测值.利用f0F2、M(3000)F2以及TEC的经验模式,获得F2层的峰值参数,输入到电子浓度的Chapman α函数中,推断出了电子浓度的高度剖面;将剖面在一定的高度范围内积分,得到该区域内的电子含量并与实际观测TEC相比较,结果表明,在100一1000 km高度范围内积分的电子含量与观测结果能够较好的符合.

     

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出版历程
  • 收稿日期:  1900-01-01
  • 修回日期:  1900-01-01
  • 刊出日期:  2004-05-15

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