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应用于空间粒子探测的Si-PIN传感器电子辐照测试

孙莹 王风 张珅毅 荆涛 杨垂柏 沈国红 张焕新 闫雪梅

孙莹, 王风, 张珅毅, 荆涛, 杨垂柏, 沈国红, 张焕新, 闫雪梅. 应用于空间粒子探测的Si-PIN传感器电子辐照测试[J]. 空间科学学报, 2016, 36(6): 932-937. doi: 10.11728/cjss2016.06.932
引用本文: 孙莹, 王风, 张珅毅, 荆涛, 杨垂柏, 沈国红, 张焕新, 闫雪梅. 应用于空间粒子探测的Si-PIN传感器电子辐照测试[J]. 空间科学学报, 2016, 36(6): 932-937. doi: 10.11728/cjss2016.06.932
SUN Ying, WANG Feng, ZHANG Shenyi, JING Tao, YANG Chuibai, SHEN Guohong, ZHANG Huanxin, YAN Xuemei. Research on Electron Irradiation Test of Si-PIN Detectors for Space Particle Monitor[J]. Journal of Space Science, 2016, 36(6): 932-937. doi: 10.11728/cjss2016.06.932
Citation: SUN Ying, WANG Feng, ZHANG Shenyi, JING Tao, YANG Chuibai, SHEN Guohong, ZHANG Huanxin, YAN Xuemei. Research on Electron Irradiation Test of Si-PIN Detectors for Space Particle Monitor[J]. Journal of Space Science, 2016, 36(6): 932-937. doi: 10.11728/cjss2016.06.932

应用于空间粒子探测的Si-PIN传感器电子辐照测试

doi: 10.11728/cjss2016.06.932
详细信息
    通讯作者:

    孙莹,E-mail:sunying@nssc.ac.cn

  • 中图分类号: V476.4

Research on Electron Irradiation Test of Si-PIN Detectors for Space Particle Monitor

  • 摘要: 长期的高能电子辐照会对Si-PIN传感器探测性能造成影响,为了考核应用器件耐电子辐照能力,采用电子辐照源模拟空间电子环境对半导体传感器进行辐照试验.试验结果表明:传感器在接收7.64×1014辐照剂量情况下,传感器能量响应能力未发生改变,计数效率稍有下降;随着辐照剂量的增大,虽然传感器漏电流不断增大,但是噪声水平较平稳,传感器的性能不影响载荷工作指标.

     

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出版历程
  • 收稿日期:  2015-10-30
  • 修回日期:  2016-03-18
  • 刊出日期:  2016-11-15

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